Группа американских учёных начала трёхлетний проект по исследованию технологии создания микрочипов, способных самостоятельно восстанавливаться после сбоев, сообщает Extreme Tech. О начале работ над проектом было объявлено на прошлой неделе на конференции по автоматизации проектирования, проходившей в Сан-Франциско, представителями корпорации Semiconductor Research, Национального научного фонда США и Университета штата Мичиган
Предполагается построить технологию проектирования чипов, которая будет более эффективно производить поиск неисправных частей чипа, переводить вычислительные функции с нерабочих частей на рабочие, а затем исправлять возникшие неполадки и возвращать отремонтированный участок в строй. При этом микрочип сможет восстанавливаться за счёт использования онлайнового ПО и собственных компонентов.
На данный момент для поиска и диагностики проблем в полупроводниках используется их избыточность, что требует значительных дополнительных затрат, ухудшения производительности и увеличении размеров чипа. Моделирование надёжности сложных систем становится всё более сложным, так как требует рассматривать всё больше разнообразных факторов, от дефектов в кремниевых проводах до недоработок в программных приложениях.
В ходе исследования будет разработана как прямая, так и интуитивная модель коррекции ошибок, а также созданы быстрые и точные способы анализа надёжности инфраструктуры. Несмотря на то, что работа над проектом займёт три года, учёные собираются периодически представлять получаемые результаты. Корпорация Semiconductor Research планирует использовать результаты проекта в широком спектре приложений, использующих электронные компоненты на основе кремния.
